利用相對法進(jìn)行測量的長度測量工具(圖:比較儀),主要由測微儀和比較儀座組成。測量時(shí)，先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組，再用此量塊組使測微儀指針對零，然后換上被測工件，測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。按測微儀所采用的放大原理，比較儀可分為機(jī)械式比較儀、光學(xué)比較儀和電學(xué)比較儀3種　　機(jī)械式比較儀 和百分表和千分表、杠桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機(jī)構(gòu)是杠桿，其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表（圖 [扭簧測微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲，另一端向左扭曲的金屬薄片（寬度為0.1毫米左右，厚度為0.005毫米左右），稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測桿上下移動時(shí)，可動支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移，使扭簧絲縮短或伸長，并帶動指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度，從表盤上即可讀出測桿的位移量。扭簧測微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,*高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為±50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測量工件外徑和厚度等。　　光學(xué)比較儀 利用光學(xué)測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。①立式光學(xué)比較儀：又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理（見自準(zhǔn)直儀）設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上，平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測桿上下移動時(shí)，平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動一個(gè)很小角度，由平面反射鏡反射回去的光線，經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學(xué)測微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用，測量范圍為0～180毫米，常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測量工件的外徑、厚度。②臥式光學(xué)比較儀：又稱臥式光學(xué)計(jì)，其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同，測量范圍為0～500毫米，適用于在計(jì)量室測量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件，如圓盤等，也常利用測孔附件測量孔徑。③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似，但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外，還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀，其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。